G3-BIS : Time of Flight Reflectometer EROS


Photo du spectromètre.
General description :
Distance chopper to detector : from 4.5m to 8m (standard:6.25m)
Distance sample to detector : from 1m to 4m
Wavelength range : from 3.5Å to 22Å
Wavelength resolution : fixed delta lambda from 0.1Å to 1Å (standard:0.15Å)
Time of flight channels : from 1 to 256 (standard:250)
Angular range : from 0.1deg. to 6deg. (standard:1.0deg.)
Angular resolution : from 0.007deg. to 0.15deg. (standard:.015deg.)
Position of the surface : horizontal
Horizontal beam size at the sample : 20mm
Vertical beam size at the sample : from 0.5mm to 10mm

Detection : 3He
Efficiency of detection : 95%
Horizontal entrance slit : from 30mm to 60mm
Vertical entrance slit : from 1mm to 10mm

In standard operation conditions :
Maximum intensity : 15 count.sec-1.channel-1 at 3.5Å
Background : 1 count/hour/channel
Minimum measurable reflectivity : 5.10-5 (5.10-6 with lowest resolution)
Typical acquisition time : 12h (for R=5.10-5 in standard conditions)

Ancillary equipment :
Multireflections system for samples of 10cm to 50cm long
Furnace (60deg.C , 200deg.C)
Permanent magnets with horizontal or vertical field of 0.6Tesla, 0.1Tesla or 0.05Tesla
Controlled temperature cells (from -40deg.C to 60deg.C) for liquid surface measurements


Ce réflectomètre est principalement destiné à l'étude des interfaces par réflexion de neutrons. Un faisceau polychromatique de neutrons non polarisés est envoyé, sous incidence rasante, sur l'interface à étudier. Celle-ci doit être plane et avoir une surface de quelques centimètres carrés. L'intensité réfléchie est mesurée en fonction de la longueur d'onde. La réflectivité est le rapport de l'intensité réfléchie à l'intensité incidente.

La variation de la réflectivité avec le vecteur de diffusion est reliée au profil de concentration perpendiculaire à la surface. Si l'on représente ce profil par une succession de couches différentes, on peut déterminer, l'épaisseur de chaque couche, sa composition ainsi que la rugosité de l'interface avec la couche suivante. Des épaisseurs allant de 30Å à 5000Å peuvent être mesurées avec une précision de quelques Angstroems.

Les rugosités sont déterminées dans une gamme allant de 10Å à 200Å avec une erreur de quelques Angstroems.

L'appareil permet l'étude des interfaces de tous types, mais est plus particulièrement adapté à la mesure des interfaces avec un solide.

Ce réflectomètre est installé au bout du guide de neutrons G3-bis. Il se compose tout d'abord d'un hacheur (chopper) qui produit des bouffées de neutrons. Un collimateur sous vide (3.8m) disposant d'une fente à chaque extrémité permet de délimiter parfaitement le faisceau. A l'intérieur de ce collimateur se trouve un ensemble de trois supermiroirs destiné à dévier le faisceau. L'échantillon est disposé sur une tête goniométrique permettant son orientation.


Réflectomètre à Temps de Vol EROS : G3-BIS
(Étude par Réflexion de l'Organisation des Surfaces)


Shéma de EROS (fichier postscript: 56Kb).

L'intensité réfléchie est mesurée à une distance variable entre 2m et 4m par un compteur unique. Il permet des mesures en réflexion jusqu'à 6deg. d'angle.

Un système permettant de réaliser des expériences en multiréflexions entre deux échantillons est disponible. On obtient ainsi une meilleure précision sur la détermination du coefficient de réflexion dans les régions où il est proche de 1.

Les miroirs de déviation peuvent être remplacés par un miroir polarisant, et un flipper peut être installé.

Améliorations futures :

Installation de guides à l'intérieur du
collimateur

Mise en place d'un chopper à double
disque permettant de travailler à (delta lambda)/lambda constant

Analyse de polarisation.

e-mail : eros@llb.saclay.cea.fr


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Edition LLB - Janvier 1995